소스 측정 장치
(15)
반도체 전기적 특성 검사 SMU 단위 S100 DC 30V 1A SMU 측정
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:Semiconductor Electrical Characteristics Testing SMU Unit, DC S100 SMU Unit, S100 30V 1A SMU Measurement
Semiconductor Electrical Characteristics Testing SMU Unit S100 DC 30V 1A SMU Measurement The S100 Source Measure Unit, meticulously crafted by PRECISE INSTRUMENT, is an outstanding representative of domestic testing equipment. It breaks the long-standing monopoly of foreign technology and delivers a... 더보기
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듀얼 채널 소스 미터
(3)
30V 30A 듀얼 채널 소스 미터 단위 DP100B 전압 / 전류 측정
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:30V 30A Dual Channel Source Meter, DP100B Source Meter Unit, Voltage Current SMU unit
30V 30A Dual Channel Source Meter Unit DP100B With Voltage / Current Measurement The DP100B dual channel high precision desktop pulse source measure unit is the newly developed high precision, large dynamic, digital touch source measure unit that based on the single channel pulse desktop source meas... 더보기
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다채널 테스트 장비
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18V 1A 4 채널 서브 카드 펄스 소스 측정 장치 CBI403 SMU 측정
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:18V 1A Four Channel Source Measure, Sub Card Pulse Source Measure Unit, CBI403 SMU Measurement
18V 1A Four Channel Sub Card Pulse Source Measure Unit CBI403 SMU Measurement The CBI401 modular subcard is a member of the CS Series Source Measure Unit (SMU) family, designed for high-precision, high-dynamic-range electrical characterization. Its modular architecture allows flexible integration wi... 더보기
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고전류 전원 공급
(2)
300A 30V 펄스 전원 공급원 높은 전류 소스 HCPL030 SiC IGBT GaN HEMT 테스트를 위해
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:300A 30V Pulse Power Supply, 300A 30V High Current Source, HEMT Test Pulse Power Supply
300A 30V Pulse Power Supply High Current Source HCPL030 For SiC IGBT GaN HEMT Test The HCPL030 series high - current pulse power supply is a pulse constant - current source. The product features steep output pulse edges (10μs), high testing efficiency (40ms, with external control relay), support for... 더보기
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고전압 전원
(4)
1200V 100mA 고전압 전원 원자 측정 단위 IGBT 고장 전압 테스트
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:High Voltage Power Source Measure Unit, 1200V 100mA High Voltage Power Source, IGBT Breakdown High Voltage Power Source
1200V/100mA High Voltage Power Source for IGBT Breakdown Voltage Test The E100 is a high-performance high voltage source measure unit specifically designed for high voltage testing environments. It can output and measure voltages up to 1200V, and accurately measure weak current signals as low as 1nA... 더보기
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20A CW / 20A QCW 테스트 레이저 전원 HCPL002 고전력 다이오드 레이저 전원
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:20A QCW Testing Laser Power Supply, 20A CW Testing Laser Power Supply, HCPL002 Diode Laser Power Supply
20A CW / 20A QCW Testing Laser Power Supply HCPL002 High Power Diode Laser Power Supply HCPL002 is a high-power laser test power supply designed to meet the most demanding test needs with advanced technology. It has CW and QCW output capabilities, and the CW and QCW currents can reach up to 20A, pro... 더보기
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데이터 획득 카드
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1MS/S A400 데이터 획득 카드 4채널 16비트 ADC 해상도 Daq 카드
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:A400 Data Acquisition Card, 16 Bit ADC Resolution Daq Card, 4 Channels Data Acquisition Card
1MS/S A400 Data Acquisition Card 4 Channels 16 Bit ADC Resolution Daq Card A400 data acquisition card is a plug-in card type independently designed and developed by Psysi, which supports variable rate sampling and large-capacity data storage, with 4 channels in a single card and up to 40 channels in... 더보기
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반도체 시험 시스템
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LDBI 레이저 노화 반도체 테스트 시스템 다채널 테스트 시스템
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:Laser Aging Semiconductor Test Systems, LDBI Semiconductor Test Systems, Multi Channel Power Device Analyzer
LDBI Laser Aging Semiconductor Test Systems Multi Channel Testing System LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and ag... 더보기
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