반도체 시험 시스템
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LDBI 레이저 노화 반도체 테스트 시스템 다채널 테스트 시스템
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:Laser Aging Semiconductor Test Systems, LDBI Semiconductor Test Systems, Multi Channel Power Device Analyzer
LDBI Laser Aging Semiconductor Test Systems Multi Channel Testing System LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and ag... 더보기
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1200V/100A 반도체 파라미터 분석기 SPA6100 반도체 테스트 시스템
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:1200V/100A Semiconductor Parameter Analyzer, SPA6100 Semiconductor Test Systems, SPA6100 Semiconductor Parameter Analyzer
1200V/100A Semiconductor Parameter Analyzer SPA6100 Semiconductor Test Systems The SPA6100 Semiconductor Parameter Analyzer offers advantages including high precision, wide measurement range, rapid flexibility, and strong compatibility. This product supports simultaneous testing of DC current-voltag... 더보기
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10kV/6000A 전원 장치 분석기 모스페트 BJT IGBT SiC GaN 반도체에 대한 정적 시험 PMST
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
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상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:10kV/6000A Power Device Analyzer, Analyzer Static Test PMST, BJT IGBT Power Device Analyzer
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test PMST For MOSFET BJT IGBT And SiC GaN Semiconductors PMST Static Parameter Test System for Power Devices integrates multiple measurement and analysis functions, enabling precise testing of static parameters for various power devices (e.g., MOSFETs, BJTs, I... 더보기
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10Hz-1MHz 반도체 장치 C-V 테스트 시스템
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:1MHz Semiconductor Power Device, 10Hz Semiconductor Power Device, C-V Semiconductor Characterization System
10Hz-1MHz Semiconductor Device C-V Testing System Capacitance-Voltage (C-V) Measurement is widely used to characterize semiconductor parameters, particularly in MOS capacitors (MOS CAPs) and MOSFET structures. The capacitance of a metal-oxide-semiconductor (MOS) structure is a function of the applie... 더보기
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1000A 전류 센서 테스트 시스템 CTMS 반도체 테스트 장비
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:1000A Current Sensor Test System, CTMS Semiconductor Testing Equipment, 1000A CTMS Semiconductor Testing
1000A Current Sensor Test System CTMS Semiconductor Testing Equipment CTMS test system integrates a variety of measurement and analysis functions, and can accurately measure the static and dynamic parameters of various current sensors (Hall current sensors, Rogowski coils, Pilsner coils, etc.), with... 더보기
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