반도체 시험 시스템
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LDBI 레이저 노화 반도체 테스트 시스템 다채널 테스트 시스템
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:레이저 노화 반도체 테스트 시스템, LDBI 반도체 테스트 시스템, 멀티 채널 전원 장치 분석기
LDBI 레이저 노화 반도체 테스트 시스템 다채널 테스트 시스템
LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and aging, 그리고 심한 칩 난방. 그것은 혁신적으로 다재다능하고, 높... 더보기
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1200V/100A 반도체 파라미터 분석기 SPA6100 반도체 테스트 시스템
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:1200V/100A 반도체 파라미터 분석기, SPA6100 반도체 시험 시스템, SPA6100 반도체 파라미터 분석기
1200V/100A 반도체 파라미터 분석기 SPA6100 반도체 테스트 시스템
SPA6100 반도체 매개 변수 분석기는 높은 정확성, 넓은 측정 범위, 빠른 유연성 및 강력한 호환성 등 장점을 제공합니다.이 제품은 동류-전압 (I-V) 의 동시 테스트를 지원합니다., 용량-전압 (C-V) 및 고전류/고전압 조건에서 펄스 I-V 특성
모듈형 구조 설계로 사용자들은 테스트 요구 사항에 따라 시스템 업그레이드를 위해 측정 단위를 유연하게 선택하고 구성할 수 있습니다.분석기는 1200V 전압까지의 측정을 지원합니다., 100A 고전류 및 ... 더보기
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10kV/6000A 전원 장치 분석기 모스페트 BJT IGBT SiC GaN 반도체에 대한 정적 시험 PMST
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:10kV/6000A 전원 장치 분석기, 분석기 정적 검사 PMST, BJT IGBT 전원 장치 분석기
10kV/6000A 전원 장치 분석기 MOSFET BJT IGBT 및 SiC GaN 반도체에 대한 정적 시험 PMST
전력 장치에 대한 PMST 정적 매개 변수 테스트 시스템은 여러 측정 및 분석 기능을 통합하여 다양한 전력 장치 (예를 들어, MOSFET,BJT, IGBT) 는 다양한 패키지 유형에 걸쳐 있습니다. 고전압 및 고전류 특성, μΩ 수준의 정밀 측정 및 nA 수준의 전류 측정 기능을 갖추고 있습니다.시스템은 고전압 모드에서 전력 장치의 연결 용량 측정을 지원합니다., 입력 용량, 출력 용량 및 역전환 용량을... 더보기
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10Hz-1MHz 반도체 장치 C-V 테스트 시스템
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:1MHz 반도체 전원 장치, 10Hz 반도체 전원 장치, C-V 반도체 특성화 시스템
10Hz-1MHz 반도체 장치 C-V 테스트 시스템
용량-전압 (C-V) 측정은 반도체 매개 변수를 특징짓기 위해 널리 사용되고 있으며, 특히 MOS 콘덴시터 (MOS CAPs) 와 MOSFET 구조에서 사용된다.금속 산화물 반도체 (MOS) 구조의 용량은 적용 된 전압의 함수입니다.전압과 용량 변동을 나타내는 곡선은 C-V 곡선 (또는 C-V 특성) 이라고 불립니다. 이 측정은 다음을 포함하여 중요한 매개 변수의 정확한 규정을 가능하게합니다.
·산화층 두께 (dox)
·서브스트라트 도핑 농도 (Nn)
·산화물 안의 이동 전하 밀도... 더보기
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1000A 전류 센서 테스트 시스템 CTMS 반도체 테스트 장비
가격: Negotiable
MOQ: 1 unit
배달 시간: 2-8 weeks
상표: PRECISE INSTRUMENT
하이 라이트:1000A 전류 센서 테스트 시스템, CTMS 반도체 시험 장비, 1000A CTMS 반도체 테스트
1000A 전류 센서 테스트 시스템 CTMS 반도체 테스트 장비
CTMS 테스트 시스템은 다양한 측정 및 분석 기능을 통합하고 다양한 전류 센서의 정적 및 동적 매개 변수를 정확하게 측정 할 수 있습니다.로고프스키 코일, 필스너 스핀 등), 단일 고전류 소스의 전류가 최대 1000A에 도달 할 수 있습니다.이 시스템은 다양한 전류 센서의 정적 및 동적 매개 변수를 측정할 수 있으며, 높은 전류 특성을 가지고 있으며, 최대 50A/us의 매우 빠른 상승 가장자리를 가지고 있습니다.그리고 KHz 수준 대역폭과 다른 특성을 측정할 수 있... 더보기
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